MC-2000C涂層測(cè)厚儀
測(cè)厚儀)是一款磁性測(cè)厚儀,該儀器性能達(dá)到當(dāng)代國(guó)際同類(lèi)儀器的先進(jìn)水平,是高新技術(shù)的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù),精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕;且具有存儲(chǔ)、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示、系統(tǒng)校準(zhǔn)等功能。 MC-2000C型鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用范圍:本儀器采用磁